Die Seite vermittelt einige Informationen über die außergewöhnlichen Eigenschaften dieses faszinierenden Materials: extreme Härte, höchste Wärmeleitfähigkeit in Kombination mit breitbandiger Transparenz. Strahlungsfenster für hohe Leistungen, Wärmesenken und verschleißfeste Bauteile sind nur einige Beispiele der vielzähligen Anwendungen.
Die Mikroanalyse im Elektronenmikroskop (ESMA) und durch Anregung mit fokussierter Röntgenstrahlung (Mikro-RFA) ist eine weit verbreitete Methode zur Charakterisierung von Festkörpern. Ziel ist es, allgemeine Informationen zur Thematik Mikroanalytik mit dem EDX und darüber hinaus ein Forum zum Austausch von Informationen zu bieten.
Auf dieser Seite wird das Verfahren der Spektroskopischen Ellipsometrie erläutert. Es wurde unter anderem die dielektrische Funktion von Si, GaAs und GaAsN aufgenommen. Der Zusammenhang von Bandstrucktur und dielektrische Funktion, sowie eine Abschätzung vom Nitrid-Anteil im GaAsN wird aufgezeigt.
